預非晶化,英文叫 preamorphization implantation(PAI),簡單講就係:喺正式注入硼(Boron)等摻雜元素之前,先用離子轟擊矽表面,將淺層矽原本整齊有序嘅晶格打亂,形成一層非晶矽。
咁做最主要係為咗壓低後續離子注入嘅「晶向通道效應」,避免一部分摻雜離子沿住晶格空隙走得太深。
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「非晶化」即係乜?
- 單晶矽:矽原子以長程、有規律嘅方式排列。
- 非晶矽:原子失去呢種長程規律排列,但仍然係固體;唔係將塊矽熔咗。
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「預」即係呢一步發生喺目標摻雜注入之前。常見做法係先以鍺(Ge)做預非晶化注入,再注入硼。
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點解要先打亂晶格?
單晶矽喺某啲晶向,原子之間會形成比較暢通嘅路徑。若果入射離子啱啱沿住呢類方向前進,碰撞會較少,於是可能鑽入矽入面好深,令摻雜濃度分布喺深處拉出一條長「尾巴」。呢個就叫 channeling,即晶向通道效應。
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要留意,呢度嘅「通道」唔係 MOSFET 裏面控制電流嗰條導電通道,而係晶格結構造成嘅離子行進路徑。
預非晶化破壞咗表層原本有序嘅晶格通道,後續摻雜離子就冇咁容易直插入深處,因而較容易做到淺而可控嘅摻雜分布。呢個做法尤其適合超淺接面製程。
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可以當佢係一片排列得好整齊嘅樹林:原本有啲筆直空位可以一路穿過去;將前面嘅排列打亂之後,就冇咁容易沿直線衝得好遠。
典型製程點樣行?
一般可分三步:
- 預非晶化注入:以 Ge 或 Si 離子製造足夠晶格損傷,令矽表層非晶化。
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- 摻雜注入:再注入 Boron 等目標雜質,利用非晶層減少深部通道尾巴。
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- 退火:令非晶層重新結晶,同時幫助摻雜原子活化。不過退火同缺陷控制都要做得好,因為非晶化唔係零代價嘅步驟。
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所以,預非晶化只係製程中間狀態;最終目標唔係令元件結構一直保持非晶態,而係喺完成退火後得到合適嘅晶體品質同摻雜分布。
同 SProcess 指令入面嘅 pai 有咩關係?
例如:
implant Boron energy=230 dose=1.0e13 tilt=0 rot=135 pai
呢度嘅 pai 係 SProcess 入面同預非晶化有關嘅注入模型選項。
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但要分清楚兩件事:
- 真實製程嘅 PAI:會先做一次離子轟擊,例如 Ge 注入,實際形成非晶層。
- 指令中嘅
pai:表示今次注入會用到相關模型;唔可以只憑呢個關鍵字,就斷定腳本自動額外執行咗一次 Ge 注入。
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喺上述一行指令中,明確指定嘅注入元素仍然只有 Boron。目前結構有冇既存非晶層、非晶層有幾深,以及 pai 喺你所用軟件版本實際點樣處理,都要連同之前嘅注入步驟同模型設定一齊睇,唔可以淨係睇呢一行。